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LEXES

A Espectrometria por Emissão de Raios X induzida por Elétrons de baixa energia (LEXES) é uma técnica exclusiva de análise elementar seletiva próximo à superfície e usada na metrologia de semicondutores.

  • LEXES
    Introdução à LEXES

    Princípios básicos da Espectrometria por Emissão de Raios X induzida por Elétrons de baixa energia.

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  • EX-300
    EX-300 Shallow Probe

    O nosso sistema de metrologia de semicondutores em linha acelera o tempo de lançamento no mercado de novos dispositivos lógicos e de memória e garante grandes volumes de produção.

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