Todas as técnicas de caracterização de materiais têm seus pontos fortes e fracos. Uma abordagem sinérgica entre técnicas complementares, como a espectrometria de massa de íons secundários (SIMS) e a tomografia por sonda atômica (APT), pode ampliar o poder dessas técnicas, permitindo descobertas que cada uma delas, isoladamente, não seria capaz de fazer. As tecnologias padrão e de ponta de cada técnica serão resumidas, desde a preparação da amostra até a redução de dados, e exemplos das técnicas complementares serão discutidos.
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Robert Ulfig trabalha com microscópios de sonda atômica na CAMECA, em Madison, desde 2001. Atualmente, ele trabalha para integrar as atividades e solicitações de clientes internos e externos ao melhor e mais recente software e hardware da CAMECA, ao mesmo tempo em que desenvolve novos aplicativos e mercados. Rob se formou na Universidade de Wisconsin-Madison com diplomas em Ciência dos Materiais, Engenharia Nuclear e Engenharia Física. |