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IMS 7f-Auto

Instrumento SIMS versátil: Sensibilidade de Detecção de Referência com Alto Rendimento e Automação Total
O IMS 7f-Auto é a versão mais recente da nossa bem-sucedida linha de produtos IMS xf de Espectrômetros de Massa de Íons Secundários (SIMS). Projetado para oferecer análises elementares e isotópicas de alta precisão com maior facilidade de uso e produtividade, ele foi otimizado para aplicações difíceis como, por exemplo, vidro, metais, cerâmica, à base de Si, dispositivos III-V e II-VI, materiais a granel, filmes finos... atendendo aos requisitos da indústria no desenvolvimento de dispositivos eficientes e controle de processo.
  • Visão geral do produto +


    Recursos analíticos fundamentais para a resolução de uma ampla gama de problemas analíticos
    A IMS 7f-Auto oferece inigualáveis recursos de perfilometria em profundidade, com alta resolução de profundidade e alto espectro dinâmico. O espectrômetro de massa de alta transmissão é combinado com duas fontes de íons reativas de alta densidade, O2 e Cs+, fornecendo, assim, alta taxa de remoção e excelentes limites de detecção. Um design óptico exclusivo permite a microscopia direta de íons e a digitalização de imagens da microssonda.

    Maior eficiência de automação e operação
    A IMS 7f-Auto está equipada com uma coluna principal em linha, redesenhada para facilitar e acelerar o ajuste do feixe principal e otimizar a estabilidade da corrente do feixe. Novas rotinas automatizadas minimizam distorções relacionadas ao operador e facilitam o uso. Uma câmara de armazenamento motorizada, com carga/descarga automatizada de suportes de amostra, garante o alto rendimento por meio da análise sequencial e da operação remota.

    Alta reprodutibilidade com alto rendimento
    Graças à sua nova câmara de armazenamento e transferência de amostra motorizada, a IMS 7f-Auto pode analisar várias amostras em cadeia ou no modo remoto. As medições podem ser totalmente autônomas e automatizadas, com rendimento e reprodutibilidade inigualáveis. Pode-se alcançar a reprodutibilidade máxima (DPR < 0,5 %), assim como excelentes limites de detecção, alto rendimento e produtividade (o equipamento pode ser usado 24 horas por dia, com mínima intervenção do operador).
  • Veja o que a IMS 7f-Auto pode fazer +

  • Documentação para download +

  • Publicações Científicas +


    Uma planilha de Excel com uma compilação de artigos de pesquisa científica usando o IMS xf (IMS 3f, 4f, 5f, 6f, 7f, IMS 7f-Auto, IMS 7f-GEO). Os artigos estão ordenados pelas aplicações principais abaixo e podem ser encontrados facilmente com as funções de busca de palavras do Excel:
    • Materials (materiais)
    • Geosciences (geociências)
    • Nuclears (nucleares)
    Baixe planilhas aqui

    Fale conosco pelo e-mail cameca.info@ametek.com caso não consiga acessar alguns arquivos PDF. Você também é mais que bem-vindo para nos enviar quaisquer referências, pdf e suplementos não relacionados aqui.
  • Links para usuários de IMS ao redor do mundo +

    Há várias centenas de CAMECA IMS 6f, 7f, 7f-Auto e 7f-GEO instaladas ao redor do mundo, a lista a seguir é um pequeno exemplo da nossa enorme lista de clientes!

    Nanoscale Characterization and Fabrication Laboratory, Virginia Tech, EUA

    Operado pelo Institute for Critical Technology and Applied Science (ICTAS) da Universidade, o Laboratório de Caracterização e Fabricação em Nanoescala atende às necessidades de pesquisadores da Virginia Tech e da comunidade industrial ao redor, facilitando a realização de pesquisas em engenharia de nanoescala e sobre ambiente, células de combustível, paleobiologia, etc. O NCFL foi um dos primeiros laboratórios do mundo a ser equipado com um CAMECA IMS 7f-GEO.

    CalTech Center for Microanalysis, EUA

    O Centro de Microanálises da Caltech possui um IMS 7f-GEO e um NanoSIMS 50L, que permitem a microanálise especializada de materiais geológicos, meteoritos e sintéticos. Os projetos de pesquisa realizados no CCM são muito variados, desde cosmoquímica a estudos experimentais sobre alterações climáticas, geocronologia, estudos in situ de comunidades microbianas, engenharia de ciências de materiais, etc.

    Helmholtz Zentrum Dresden Rossendorf, Alemanha
    O instrumento da série CAMECA IMS em Rossendorf está acoplado a um espectrômetro de massa acelerador no núcleo da iniciativa "Super-SIMS" do Instituto Helmholtz Freiberg para Tecnologia de Recursos.

    University of Manitoba, Manitoba Regional Materials and Surface Characterization Facility, Canadá
    Equipada com um CAMECA IMS 7f e vários outros instrumentos para caracterização de materiais, a Unidade Regional de Caracterização de Materiais e Superfícies de Manitoba oferece um recurso exclusivo a pesquisadores governamentais e industriais da região e possibilita pesquisas de classe internacional sobre a natureza química, estrutural e morfológica de superfícies e materiais a granel.

    CIM PACA, Arcsis, França

    A CIM PACA, localizada no sudeste da França, uma bacia para produção de semicondutores, é a principal plataforma de caracterização do ARCSIS, um consórcio que reúne grupos de semicondutores de nível internacional, incluindo Philips, STMicroelectronics, Texas Instruments, etc. assim como empresas de pequeno e médio porte, faculdades de engenharia, laboratórios de pesquisa e universidades da região. A CIM-PACA é dedicada ao planejamento, teste e validação de novas tecnologias de semicondutores.

    CC-MEM, Institut Jean Lamour / Ecole des Mines de Nancy, França

    O Centro de Competências em Microscopia Eletrônica e Microssondas (CC-MEM) é uma instalação de pesquisa colaborativa situada na École des Mines de Nancy. O IMS 7f entregue em 2009 ao CC-MEM contribui para pesquisas de ponta em ciências de materiais, metalurgia e nanociências.

    Cinvestav, Seccion de electronica del estado solido, México
    Criado em 1961, o Cinvestav (Centro de Estudos Avançados do Instituto Politécnico Nacional do México) é uma instituição líder em pesquisas e ensino de pós-graduação no México e no mundo.

  • Programas +

    • WinCurve dataprocessing sofware
      WinCurve

      Desenvolvido especificamente para os equipamentos SIMS da CAMECA, o WinCurve oferece poderosos recursos de visualização e processamento de dados em um ambiente intuitivo.

      Continuar lendo

    • WinImage Software
      WinImage II

      Desenvolvido especificamente para os equipamentos SIMS da CAMECA, o WinImage II oferece poderosos recursos de visualização, processamento e impressão de imagens no PC-Windows? Ambiente.

      Continuar lendo

    • APM Software
      APM

      A Medição Automatizada de Partículas (APM) é a ferramenta de software da CAMECA que permite rápida varredura de milhões de partículas, detecção de partículas e caracterização isotópica.

      Continuar lendo

  • Kits de upgrade +

    Específico para usuários de IMS 6f: Estenda a vida útil do seu instrumento com o nosso programa de revisão geral do IMS 6f:
    Os instrumentos de microssondas iônicas IMS 6f são robustos, mas são antigos e seus componentes eletrônicos estão se tornando obsoletos. Para minimizar o risco de inatividade prolongada e não programada, a CAMECA oferece um programa de revisão geral para o IMS 6f que o atualiza completamente com novos sistemas eletrônicos, sistemas de bombeamento e vácuo, hardwares, automação total, software de aquisição e de processamento de fácil uso, etc.
    Faça o download do folheto Upgrade do IMS 6f-E7 para ver os detalhes dessa atualização e seus benefícios em termos de desempenho, produtividade, facilidade de uso e, claro, tempo de disponibilidade e sustentabilidade.


    Para ver outras opções disponíveis, clique em um dos itens abaixo:
    Automação e software
    Fontes
    Câmara de vácuo
    Câmara de amostras
    Sistema óptico

    Automação e software

    Automação de PC (6f / 7f equipado com estação de trabalho SUN)
    Sistema de automação de PC para substituir o sistema SUN, permite automação completa e operação desacompanhada, melhorando muito o desempenho e o rendimento. Para mais informações, baixe o Folheto de upgrade de automação do PC do IMS 6f.

    Estação pós-tratamento (6f / 6f-E7/ 7f)
    Computador PC para processamento de dados off-line (software da CAMECA não incluído).

    Duplicação de controle de mesa (7f com Automação de PC / 6f-E7)
    Controle do instrumento a partir de uma sala de operação. Garante um conforto operacional otimizado quando o laboratório é dividido em duas partes.

    Licença do Software APM (6f com Automação de PC / 6f-E7 /7f com Automação de PC)
    Programa automatizado de medição de partículas para triagem rápida de grandes números de partículas e detecção de elementos específicos ou isótopos. Mais informações.

    Licença do Software WinCurve (off-line) (6f / 7f / 6f-E7)
    Fornece poderosa capacidade de processamento de dados e gráficos SIMS. Mais informações.

    Licença do Software WinImage II (off-line) (6f / 7f / 6f-E7)
    Fornece poderosa capacidade de processamento de imagens SIMS. Mais informações.

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    Fontes

    Isolamento de fonte de íons Cs (7f com Automação de PC)
    Isolamento e bombeamento da fonte de microfeixe de césio.

    Aceleração/desaceleração duo (7f com Automação de PC)
    Sistema de energia iônica primária baixa para a fonte de duoplasmatron.

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    Câmara de vácuo

    Upgrade da câmara de armazenamento (7f com Automação de PC / 6f-E7)
    Câmara de armazenamento manual com o bloqueio de carga projetado para armazenar até seis suportes de amostra sob alto vácuo. Garante melhorias substanciais de taxa de transferência para aplicações que dependem das melhores condições possíveis de UHV. 

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    Câmara de amostras

    Movimento-Z (7f com Automação de PC / 6f-E7)
    Ajuste manual do eixo Z para a fase de amostra.

    Upgrade do turbospectro (7f com Automação de PC / 6f-E7)
    Bombas turbomoleculares para o espectrômetro de massa (para substituir as bombas de íons existentes, otimizar a velocidade de bombeamento no espectrômetro de massas e melhorar a sensibilidade de abundância ao usar inundação de oxigênio).

    Câmera de Vídeo Digital (7f com Automação de PC / 6f-E7)
    Câmera numérica e sistema LED de ilustração de amostra (luz branca).

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    Sistema óptico secundário

    Pós-aceleração do Detector EM (7f com Automação de PC)
    Pós-aceleração para o detector de multiplicador de elétrons. Aumenta a sensibilidade ao analisar elementos pesados e ao operar o espectrômetro de massa em baixa tensão de extração secundária (<3 kV).