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PRODUTOS

  • SIMS
    SIMS

    Nossos Espectrômetros de Massa de Íons Secundários são uma referência mundial, combinando uma inigualável sensibilidade e limites de detecção (mesmo em elementos leves) com uma alta produtividade.

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  • APT
    APT

    Desenvolvidos exclusivamente pela CAMECA, os instrumentos de Tomografia por Sonda Atômica oferecem um ampla poder de captura de imagens 3D em nanoescala e medições de composição.

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  • EPMA
    EPMA

    Os nossos Microanalisadores de Sonda de Elétrons, líderes no setor e equipados com espectrômetros WDS (Espectrometria por dispersão de comprimento de onda), () são conhecidos por seus superiores recursos de mapeamento de raios X e análise quantitativa.

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  • LEXES
    LEXES

    Usada pelas principais empresas de semicondutores, as nossas ferramentas de metrologia de composição dão suporte à inovação no nó de 14 nm e superiores, garantindo a integração de novos processos e produção de alto volume

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