Junte-se a nós em um workshop gratuito que apresentará líderes de pensamento em análise elementar, imagens de alta resolução e novos métodos analíticos para caracterizar materiais para pesquisa e controle de processos. Saiba como os pesquisadores da Sociedade Max Planck para o Avanço da Ciência, da Universidade de Freiburg e de outras instituições usaram a espectrometria de massa (APT e SIMS) e a microscopia eletrônica (SEM e TEM) para avançar em suas pesquisas, desde a
metalurgia até os
semicondutores.
📍 Local: AMETEK GmbH, Rudolf-Diesel-Straße 16, 64331 Weiterstadt, Germany
📆 Data: Terça-feira, 3 de junho de 2025
Esse workshop de um dia é aberto a usuários novatos e experientes e incluirá tempo suficiente para a formação de redes com especialistas da CAMECA, Gatan e EDAX.
🚩Agenda
| Time |
Title |
Speaker |
Speaker Affiliation |
| 9:30 – 10:00 |
Welcome and introduction |
Wiebke Rumpf |
AMETEK GmbH |
| 10:00 – 10:30 |
Improving materials characterization by advanced EBSD analysis |
Dr. René de Kloe |
EDAX (now part of Gatan) |
| 10:30 – 11:00 |
Quantum leaps in EBSD analysis |
Dr. Stefan Zaefferer |
Department of Microstructure Physics and Alloy Design, Max Planck Institute for Sustainable Materials |
| 11:00– 11:30 |
Coffee break |
| 11:30– 12:00 |
Correlative APT-EBSD studies on energy materials |
Prof. Dr. Oana
Cojocaru-Mirédin |
INATECH, Albert Ludwig University of Freiburg |
| 12:00 – 12:30 |
The TOMO project– Integrating a fully functional atom probe in an abberation-corrected TEM |
Prof. Dr. Joachim Mayer |
Ernst Ruska – Centre for Microscopy and Spectroscopy with Electrons (ER-C) |
| 12:30– 13:30 |
Lunch |
| 13:30 – 14:00 |
SIMS in material science: An introduction to analyzing thin films, nanostructures & more |
Dr. Stephanie Reiß |
CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH – CiS Analytics Competence Center CAK |
| 14:00– 14:30 |
Cryo-APT opens up new possibilities in materials analysis |
Dr. Tim Schwarz |
Department of Microstructure Physics and Alloy Design, Max Planck Institute for Sustainable Materials |
| 14:30– 15:00 |
Coffee break |
| 15:00– 15:30 |
Quantitative EPMA and SIMS analysis for industrial coatings |
Dr. Kirsten Schiffmann |
Head of Department Analytics and Quality Assurance,
Fraunhofer Institute for Surface Engineering and Thin Films IST |
| 15:30– 16:00 |
Micro- and nanoscale characterization using APT and SIMS |
Dr. René Chemnitzer |
CAMECA |
| 16:00 |
Hors d'œuvres and drinks
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