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tomografia por sonda atômica (APT) fornece informações únicas sobre os materiais em escala atômica, mas alcançar a reprodutibilidade e reduzir os artefatos nas amostras continua sendo um grande desafio. Os instrumentos FIB-SEM convencionais à base de Ga frequentemente introduzem artefatos, como implantação, difusão e camadas superficiais amorfas, que podem comprometer a precisão dos dados composicionais.
Os sistemas FIB-SEM de plasma que utilizam íons de xenônio (Xe) oferecem uma maneira de mitigar essas limitações, reduzindo as interações entre íons e amostras e eliminando a contaminação relacionada ao gálio. Avanços recentes na modelagem e resolução do feixe agora permitem a preparação de pontas APT de alta qualidade com melhor reprodutibilidade e rendimento.
Com a última geração da tecnologia FIB de plasma implementada no TESCAN AMBER X 2, novos refinamentos nos parâmetros do feixe proporcionam não apenas uma melhor qualidade da amostra, mas também uma operação significativamente simplificada. Esses avanços tornam os fluxos de trabalho do FIB de plasma mais intuitivos e acessíveis, aproximando-se da facilidade de uso tradicionalmente associada aos FIB-SEMs baseados em Ga.
Este webinar, organizado em colaboração com a Universidade de Sydney e a CAMECA, apresentará os recursos do TESCAN AMBER X 2 plasma FIB-SEM. A discussão se concentrará nos recentes desenvolvimentos metodológicos que aumentam a precisão na preparação de amostras APT e demonstrará como essas melhorias resolvem desafios de longa data na análise de sonda atômica.
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Os principais pontos a serem destacados incluem:
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Saiba como a coluna FIB de plasma Mistral™ otimizada no TESCAN AMBER X 2 permite a preparação de pontas APT de alta qualidade e sem artefatos;
- Entenda como as camadas de danos reduzidas melhoram a reprodutibilidade e a precisão nos resultados da tomografia por sonda atômica;
- Descubra fluxos de trabalho simplificados que aumentam o rendimento e a consistência na preparação de amostras APT específicas para cada local;
- Obtenha informações sobre aplicações reais e melhores práticas desenvolvidas em colaboração com a Universidade de Sydney.
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Palestrantes:
Martin Sláma
Gerente de Marketing de Produtos para soluções FIB-SEM em Ciência dos Materiais, Tescan Group
Martin Sláma atua como Gerente de Marketing de Produtos para caracterização 3D FIB-SEM e preparação de lamelas TEM em ciência dos materiais, trazendo mais de oito anos de experiência com instrumentos FIB-SEM. Ao longo de sua carreira utilizando a técnica FIB-SEM, ele se concentrou principalmente em métodos convencionais e avançados de preparação TEM usando as soluções FIB de plasma e Ga+ FIB-SEM da TESCAN, juntamente com a caracterização de materiais por meio da tomografia 3D FIB-SEM. Antes de ingressar na TESCAN, Martin esteve envolvido no desenvolvimento e caracterização de novos materiais na Universidade Tecnológica de Brno, CEITEC e Universidade de Aston.
Felix Theska
Diretor Técnico Sênior – Preparação de amostras para sonda atômica, Sydney Microscopy & Microanalysis (Universidade de Sydney)
Como Diretor Técnico Sênior da Sydney Microscopy & Microanalysis da Universidade de Sydney, Felix Theska apoia pesquisadores na preparação de amostras para tomografia por sonda atômica e microscopia eletrônica de transmissão. Em sua carreira, ele empregou ferramentas FIB-SEM equipadas com colunas Ga+, Xe+ e Ar+, bem como recursos analíticos, como EDXS, EBSD e TKD, para a preparação de amostras específicas de limites de fase, limites de grãos, estruturas multicamadas de filme fino e partículas em nanoescala. Antes de sua função na Sydney Microscopy & Microanalysis, Felix trabalhou como pós-doutorado na Universidade de Nova Gales do Sul (UNSW) em Sydney e como assistente de pesquisa na Universidade de Tecnologia de Ilmenau, na Alemanha.
Katherine Rice
Gerente de Aplicações APT, CAMECA
A Dra. Katherine Rice é Gerente de Aplicações na CAMECA Instruments em Madison, Wisconsin. Ela obteve seu doutorado em Engenharia Química pela Universidade do Colorado-Boulder e concluiu um pós-doutorado do NRC no NIST-Boulder. Seus interesses de pesquisa incluem EBSD de transmissão, síntese de nanopartículas e tomografia por sonda atômica.