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A Espectrometria de Massa de Íons Secundários Dinâmica oferece recursos de aquisição de imagem 2D e 3D com resolução lateral submicrônica e fornece medições elementares e isotópicas de alta sensibilidade com limites de detecção de nível de ppm para todas as espécies (H-U).
Coeditado com a Wiley, este guia tutorial explora os principais componentes de um instrumento SIMS dinâmico típico, descreve suas vantagens sobre técnicas analíticas alternativas de superfície e discute direções futuras que permitirão que a técnica seja aplicada a uma gama ainda maior de amostras. Quatro estudos de caso fornecem exemplos de como o SIMS é usado em áreas que vão das ciências da vida aos materiais e à bioquímica.
Este breve guia é um recurso valioso para estudantes, cientistas e engenheiros, tanto na academia quanto na indústria.
Índice:
- Introdução
- História e contexto
- Na prática
- Estudo de caso 1: Ver é crer
- Estudo de caso 2: Sintetizando cristais semicondutores
- Estudo de caso 3: Medindo o hidrogênio na Lua e em Marte
- Estudo de caso 4: SIMS autofocalizante
- Problemas e Soluções
- O que está por vir?