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LEAP 5000

O Microscópio de Sonda Atômica 3D com incomparável desempenho analítico subnanométrico em 3D
O LEAP 5000 é o Microscópio de Sonda Atômica de ponta da CAMECA, oferecendo superior eficiência de detecção em uma ampla variedade de metais, semicondutores e isoladores: mais de 40% de átomos extras detectados por nm3 analisado.
  • Visão geral do produto +


    A LEAP 5000 coleta informações em nanoescala de um conjunto de dados em microescala em apenas algumas horas com maior exatidão, precisão e limite de detecção da composição, maior número de amostras juntamente com o aumento da produção e melhor reprodutibilidade.

    • A eficiência de detecção otimizada proporciona sensibilidade incomparável
    • Grande campo de visão e uniformidade de detecção - a melhor resolução espacial 3D
    • Excelentes recursos de detecção multiacertos para medições mais precisas da composição
    • Taxa de repetição rápida e variável para aquisição de dados com velocidade ultra-alta 
    • Plataforma robusta e ergonômica para maior facilidade de uso e redução do tempo para conhecimento
    • Monitoramento em tempo real para garantir a mais alta qualidade de dados em cada medição
    • Algoritmos de controle a laser avançados proporcionam uma produção de amostras visivelmente melhorados

    A Família LEAP 5000

    LEAP 5000 XS
    A LEAP 5000 XS combina a nova tecnologia de trajetória de voo com um desempenho de detector aprimorado, a fim de oferecer um melhor campo de visão e alcançar ao mesmo tempo uma eficiência de detecção sem precedentes de ~80%, a maior em qualquer técnica analítica! Além disso, o módulo de laser pulsado avançado, capaz de oferecer taxas de repetição de até 2 MHz, torna a LEAP 5000 XS o máximo em eficiência e produtividade.

    LEAP 5000 XR
    A LEAP 5000 XR incorpora o avançado design reflectron e o melhor desempenho de detector (eficiência de detecção aumentada para ~50%) e agrega todos os benefícios do laser pulsado avançado, com capacidade de taxas de repetição de até 500 kHz. A LEAP 5000 XR é a sonda atômica de maior capacidade na mais ampla variedade de aplicações de pesquisa e desenvolvimento.

    LEAP 5000 R
    Um melhor sistema de pulsos de tensão com capacidade de amplitudes de pulso 40% maiores e taxas de repetição de pulso de até 500 kHz, juntamente com um novo design avançado de reflectron e melhor desempenho de detector tornam a LEAP 5000 R a mais potente sonda atômica de modo de tensão já produzida.
  • Veja o que a Sonda Atômica LEAP pode fazer +

  • Download de documentação +

  • Publicações Científicas +


    O gráfico abaixo ilustra o crescimento da Tomografia por Sonda Atom.

    A adoção pela comunidade científica e a taxa de publicação cresceram exponencialmente ao longo dos últimos 10 anos, testemunhando a chegada da idade da Tomografia por Sonda Atom, a única técnica microanalítica que fornece informações completas sobre as nanoestruturas de materiais. Você pode baixar uma seleção de publicações da APT neste link: Publicações APT - uma seleção.

    Growth of Atom Probe Tomography publications

  • Vídeo +

  • Usuários do APT em todo o mundo +

    Seleção de sites relacionados a sonda atômica

    International Field Emission Society (IFES)

    A Sociedade Internacional de Emissões em Campo é uma sociedade científica mundial que visa promover a nanociência de campo alto e a microscopia de sonda atômica. Em cada Simpósio da IFES, organizado a cada dois anos, o Prêmio E.W. Müller para Jovem Cientista é dado ao melhor trabalho apresentado oralmente em uma competição.

    Materials Physics Group, Rouen University, França
    O GPM é uma unidade de pesquisa conjunta da Universidade de Rouen-CNRS e do INSA, liderada pelo Prof. Didier Blavette. Esse é um dos maiores grupos da comunidade de sondas atômicas. A CAMECA colabora com o GPM para projetos e desenvolvimento de suas sondas atômicas.

    Oak Ridge National Laboratory, Microscopy Group, EUA
    O Grupo de Microscopia do laboratório ORNL é especializado em desenvolvimento e aplicação de microscopia eletrônica avançada, tomografia de sonda atômica e técnicas de ciências de superfície para a caracterização de escala sub-nm da microestrutura, natureza química e composição de materiais. Através do uso de um CAMECA LEAP, cientistas e engenheiros do ORNL contribuem significativamente ao avanço da tecnologia 3DAP e suas aplicações.

    Geoscience Atom Probe, Curtin University, Austrália
    O desenvolvimento do estudo de Sonda Atômica em Geociência como parte da Unidade Avançada de Caracterização de Recursos, localizada no Centro John de Laeter da Universidade de Curtin, fornece um enfoque único no desenvolvimento e na aplicação desta técnica excitante à disciplina de Ciências da Terra.

    Northwestern University Center for Atom Probe Tomography (NUCAPT), EUA
    O Grupo de Pesquisas Seidman da Universidade Northwestern, Illinois, usa um LEAP 4000X Si para estudar a composição química e a evolução de precipitados, interfaces e outros fenômenos em nanoescala. O Grupo Seidman está entre as principais equipes de pesquisa envolvidas na investigação de materiais nanoestruturados.

    Marquis Research Group, University of Michigan, Ann Arbor, EUA
    Parte do Departamento de Ciências de Materiais e Engenharia da Universidade de Michigan, e equipado com um LEAP 4000X-HR, o Grupo de Pesquisas Marquis tem como foco a exploração experimental de estruturas de escala atômica para entender o comportamento dos materiais e desenvolver materiais e estruturas mais eficientes para aplicações em energia.

    FIM & Atom Probe Group, Department of Materials at Oxford University, Reino Unido
    Ao longo de mais de 40 anos de história, o FIM e o Grupo de Sonda Atômica da Universidade de Oxford são líderes mundiais no desenvolvimento da técnica de sonda atômica e de suas aplicações a problemas de ciências de materiais.

    ACMM, University of Sydney, Austrália
    O Centro Australiano de Microscopia e Microanálise (ACMM) é o principal centro de microscopia da Universidade de Sydney. Dirigido pelo Prof. Simon Ringer, ele fornece à comunidade de pesquisas de Sidney os mais avançados instrumentos e conhecimentos para explorar a estrutura de amostras, desde físicas a biológicas, em escalas que se estendem até as moleculares e atômicas.

    Deakin University, Electron Microscope Facility, Victoria, Austrália
    Instalada no Centro de Tecnologia Geelong no Campus Geelong Waurn Ponds, a Unidade de Microscópio Eletrônico Deakin suporta uma ampla gama de projetos de pesquisa que lideram e inspiram inovações em ciências e engenharia de materiais.

    Metallic Nanostructure Group of NIMS, Japão
    O grupo Sonda Atômica do Dr. Hono faz parte do Laboratório de Engenharia de Materiais do Instituto Nacional de Ciências dos Materiais (NIMS) em Tsukuba, Japão.

    Max-Planck-Institut für Eisenforschung, Düsseldorf, Alemanha
    O Grupo de Tomografia de Sonda Atômica do MPI Düsseldorf, sob a liderança do Dr. Pyuck-Pa Choi, conduz pesquisas básicas sobre as propriedades mecânicas dos materiais e sua relação com as nanoestruturas e microestruturas subjacentes. Ele foi criado em 2009 em conjunção com a instalação de um LEAP 3000X HR. O MPI Dusseldorf também é um dos primeiros proprietários de uma sonda atômica LEAP 5000 de última geração.

    Microscopy and Microanalysis group, Chalmers University, Suécia
    Os projetos de pesquisa conduzidos pelo grupo de Microscopia e Microanálise objetivam desenvolver e melhorar o entendimento fundamental da microestrutura de materiais tecnologicamente importantes, sua manipulação e importância na determinação das propriedades dos materiais.

    EMEZ - Electron Microscopy, Federal Institute of Technology, Zurich, Suíça
    A EMEZ é uma unidade interdisciplinar da ETH Zurich que apoia esforços e serviços de pesquisa vitais para membros da ETH e pesquisadores visitantes, bem como para a indústria em geral.

    POSTECH, Coreia
    Universidade de Ciências e Tecnologia de Pohang e Centro Nacional de Tecnologia de Nanomaterial (NCNT), sob a liderança do Prof. Chan Gyung Park (páginas em coreano).

    Thompson Research Group, University of Alabama, EUA
    O grupo de pesquisas do professor Thompson analisa a interdependência entre as propriedades de microestruturas dos processamentos através da investigação da transformação e estabilidade das fases em uma variedade de sistemas de materiais em diferentes escalas de comprimento.

    Montanuniversität Leoben, Áustria

    A equipe da Dra. Francisca Mendez-Martin do Departamento de Metalurgia Física e Materiais conduz estudos em diversos tópicos: engenharia de superfície, transformações de fase, monitoramento in-situ de mudanças microestruturais durante a solidificação e o tratamento térmico de materiais metálicos, desenvolvimento de material nanoestruturados, etc.

    King Abdullah University of Science and Technology (KAUST), Arábia Saudita
    Inaugurada em setembro de 2009, a KAUST possui um programa impressionante, dedicado a criar de uma das principais instituições de pesquisas científicas do mundo. Dois dos modelos de nova geração de sonda atômica da CAMECA serão instalados em uma das principais unidades de pesquisa do departamento de Ciências e Engenharia de Materiais da KAUST, sob a liderança do Prof. Tala'at Al-Kassab.

    Fraunhofer Center for Nanoelectronic Technologies, Dresden, Alemanha
    Localizado no “Silicon Saxony”, o centro CNT Fraunhofer oferece oportunidades ideais de colaboração no campo da nanoeletrônica para institutos de pesquisas e fabricantes de materiais e equipamentos. O LEAP 3000X instalado no CNT Fraunhofer é dedicado à pesquisa em materiais semicondutores, bem como revestimentos duros, vidros metálicos e materiais de fusão nuclear.

    Université Paul Cézanne, Marseille, França
    A Equipe de Reatividade e Difusão em Interfaces, sob a liderança de Dominique Mangelinck, faz parte do IM2NP, um instituto de pesquisas que dá apoio a uma ampla gama de programas, como modelagem, design, arquitetura, processos, materiais e suas propriedades físico-químicas.

    UCSB's Materials Department, Santa Barbara, Califórnia, EUA
    Amplamente reconhecida como uma das principais unidades de pesquisa de materiais do mundo, o Departamento de Materiais da UCSB atua como um mecanismo de inovação para descobertas de novos materiais. Sob a liderança do professor James S. Speck, ele possui um LEAP 3000X.

    Atomprobe.com
    Hospedado pela CAMECA Instruments Inc., o site para usuários de equipamentos de tomografia de sonda atômica fornece a usuários e proprietários de sistemas APT um único local para obter e compartilhar informações.
  • Programas +

    • AP Suite 6
      AP Suite 6

      O kit de ferramentas da sonda atômica para estações de trabalho de análise de dados: uma plataforma colaborativa, fácil de usar, desenvolvida para gerenciar com perfeição todos seus projetos de pesquisa de tomografia de sonda atômica em um único ambiente.

      Continuar lendo

    • IVAS Software
      IVAS

      Especificamente desenvolvido para as Sondas Atômicas da CAMECA, o IVAS fornece poderosos recursos de visualização e análise para extrair informações quantitativas 1D, 2D e 3D coletadas em equipamentos APT, de forma rápida e fácil.

      Continuar lendo

  • View Webinars +

    • An Introduction to Atom Probe Tomography and its Applications

      sexta-feira, abril 19, 2019

      CAMECA's Dr. Katherine Rice presents an Introduction to Atom Probe Tomography in a webinar hosted by the Materials Research Society. If you're looking for an easy introduction to the technique, an overview of APT instrumentation and the benefits to your institution or organization, this webinar is a great starting point. Packed with examples, it's the perfect primer on this powerful technology. Please note, you'll need a (free) Materials Research Science account to watch.
      Duration : 61 minutes
    • Atom Probe Analysis of Catalyst Materials PART 1

      terça-feira, março 3, 2020

      Aluminum Tracking in Steamed ZSM-5 Zeolites With assistance from Dr. Danny Perea et al. at PNNL; Professors Bert Weckhuysen and Dr. Joel Schmidt at Utrecht University, and Dr. Simon Bare, Stanford. This webinar incorporates materials from: NATURE COMMUNICATIONS | 6:7589 | DOI: 10.1038/ncomms8589 Angew. Chem. Int. Ed. 2016, 55, 11173 –11177 NATURE COMMUNICATIONS | 8: 1666| DOI: 10.1038/s41467-017-01765-0 M. K. Miller et al., Ultramicroscopy 2005, 102, 287 K. Thompson et al., Ultramicroscopy 2007, 107, 131 M. K. Miller et al. Microscopy & Microanalysis 2007,13(6), 428 D. J. Larson et al., Ultramicroscopy 1999, 79, 287 K. Thompson et al, Microscopy & Microanalysis 2006, 12(S2), 1736CD K. Thompson et al., Ultramicroscopy 2007, 107, 131
      Duration : 12 minutes
    • 3D Reconstruction and Analysis of Semiconductor Devices

      segunda-feira, julho 9, 2018

      Semiconductor devices are some of the most complicated samples for Atom Probe Tomography. In this webinar, Hugues Francois Saint Cyr walks you through semiconductor sample preparation and analysis ensuring that you get the APT results you need from your semiconductor development.
      Duration : 40 minutes
  • Kits de upgrade +

    Opções para LEAP®

    Limpador integrado de plasma
    Um limpador de plasma automatizado e totalmente integrado que oferece maior produtividade e menor custo de propriedade para o sistema LEAP.

    Analisador de gases residuais
    Permite a análise de pressão parcial do instrumento LEAP. 

    LEAP 5000 VCTM
    O Módulo de Transferência a Vácuo e Crio (VCTM) permite que as amostras sejam transportadas entre o LEAP e as estações de trabalho auxiliares, mantendo as condições UHV e criogênicas. O módulo utiliza uma câmara portátil compatível com UHV totalmente integrada ao LEAP 5000 (através de uma estação de ancoragem). Observe que as estações de trabalho adicionais também devem ser compatíveis com o VCTM e isso não está incluído nessa opção. Contate o representante de vendas da CAMECA para obter mais detalhes.

    Pacote de melhoria de produtividade
    Estende a capacidade de armazenamento do sistema LEAP e inclui um carrossel aquecido in situ totalmente integrado para reduzir os tempos ociosos de bombeamento, aumentar a produtividade da amostra e melhorar a qualidade do vácuo.

    Pacote anti-vibração
    A plataforma de isolamento de vibração ativa permite que o LEAP seja instalado em ambientes que não atendem aos padrões de vibração. Essa solução integrada combina cancelamento de vibração ativa a um upgrade da plataforma LEAP. A tecnologia piezelétrica patenteada cancela a vibração do piso em tempo real com largura de banda ativa a partir de 0,6 Hz.

    Kit sísmico
    Kit de contenção sísmica instalado de fábrica. Os requisitos de piso devem ser cumpridos para a compra desta opção.

    Módulo de microscópio de íon de campo (eFIM)
    Adiciona a capacidade de microscópio de íon de campo (FIM) ao sistema LEAP.

    Opções para LEAP® e EIKOS™

    Indicador Electro
    Simplex Electropointer(TM) para a produção de amostras do LEAP eletropolidas. PC de controle e produtos químicos decapantes não incluídos.

    Electropolidor manual
    A unidade de eletropolimento manual é projetada para permitir máxima flexibilidade à produção de amostras de uma ampla variedade de materiais O dispositivo inclui fonte de alimentação, manuseio de produtos químicos e todos os acessórios necessários para preparar amostras de sonda atômica de alta qualidade. (Microscópio óptico e reagentes químicos não estão incluídos.)

    Kit de preparação avançada de amostras
    O kit de preparação avançada de amostras inclui os principais componentes necessários para a preparação avançada de amostras com base em FIB.


  • Technical notes +